紫外線uv之紫外線老化試驗(yàn)箱的產(chǎn)生

時(shí)間：2020-01-05作者：北京雅士林試驗(yàn)設(shè)備有限公司瀏覽：489

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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• 知識(shí)回饋之熱老化試驗(yàn)箱規(guī)范性引用文件

  ??? 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T7141-2008 塑料熱老化試驗(yàn)方法代替了GB/T7141-1992《塑料熱空氣暴露試驗(yàn)方法》，本標(biāo)準(zhǔn)提供了在單一溫度和一系列溫度變化下每種材料進(jìn)行暴露試驗(yàn)時(shí)的試驗(yàn)方法和結(jié)果比較方法，試驗(yàn)結(jié)果可用于材料溫度穩(wěn)定性的基本評(píng)定或在設(shè)定溫度下的較大預(yù)期使用壽命的評(píng)估。以下是GB/T7141-2008塑料熱老化試驗(yàn)方法的規(guī)范性引用文件。  

• 低氣壓試驗(yàn)箱GB/T4937.2-2006標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用范圍

  ? ??低氣壓試驗(yàn)箱GB/T4937.2-2006《半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 *2部分 低氣壓》本部分適用于半導(dǎo)體器件的低氣壓試驗(yàn)。本項(xiàng)試驗(yàn)的目的是測(cè)定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時(shí)，空氣和其他絕緣材料的絕緣強(qiáng)度減弱所造成的。本項(xiàng)試驗(yàn)僅適用于工作電壓**過(guò)1000V的器件。 ??? 低氣壓試驗(yàn)箱GB/T