影響鍍層測厚儀測量準確性的因素有哪些？

時間：2022-04-18作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：86

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

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  詞條說明

• X熒光光譜儀對于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測試

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定。接下來和一六儀器一起了解X熒光光譜儀對于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測試。燒滲法也叫被銀法。這種方法是在陶瓷的表面燒滲一層金屬銀，作為電容器、濾波器的電極或集成電路基片的導電網(wǎng)絡。銀的導電能力強，抗氧化性能好，在銀面上可直接焊接金屬。燒滲的銀層結(jié)合牢固，熱膨脹系數(shù)與瓷坯接近，熱穩(wěn)定性好。此外燒滲的溫度較低，燒滲工

• 影響光譜測厚儀檢測質(zhì)量的因素

  光譜測厚儀本身的分辨力和精細的光譜辨析效果也為后續(xù)的測量質(zhì)量帶來了品質(zhì)，這種光譜儀裝置其本身的效果要表現(xiàn)出穩(wěn)定的質(zhì)量，影響光譜儀檢測質(zhì)量的因素。接下來和一六儀器一起了解一下。一、相應傳導技術的水平和探測裝置的技術能力由于待測物質(zhì)體積的限制相應的采樣方法必須要較加靈活且較加可靠，而我國廣受**的光譜測厚儀使用方法會受到這種探測裝置知識能力的影響，由于其本身的光纖信號和相應的傳輸作用有著顯著的差異，后

• 膜厚測試儀器儀表六個種類應用及特點(下)

  上期我們說的是磁性式膜厚測厚儀特點、渦電流式膜厚測厚儀特點、紅外膜厚測厚儀特點，接下來說說電解式膜厚測厚儀、金相膜厚測試法、X-RAY膜厚測厚儀三種膜厚測厚儀。接下來一六小編說說膜厚測試儀器儀表種類介紹及特點。電解式(庫倫法)可以測量多層鍍膜，幾乎可測試目前所有常見的電鍍鍍層，其缺點則是操作過程繁復,消耗品如藥水價格高代表機型: KOKI CT1及CT2。電解式膜厚測厚儀特點:1、價格經(jīng)濟，約1-

• 一六儀器帶你深入了解熒光光譜儀

  熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準確度。 可用于一般樣品(液體、固體)中的穩(wěn)態(tài)熒光測量和瞬態(tài)熒光測量，如高分子和**分子自然熒光的研究，液體中大分子分子運動的研究，固體高分子取向的研究，高聚物光降解和光穩(wěn)定性的研究，光敏化過程的研究。熒光光譜儀(XRF)由激