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詞條說明
直讀光譜儀,目前常用的光源有以下兩種:一是經(jīng)典光源包括電弧及火花光源,二是等離子體光源居多。其中在冶金分析中廣泛應(yīng)用的有高壓控波光源、低壓火花高速光源和高能預(yù)火花光源。那么光譜分析常用光源的放電方式有哪些呢?1. 高能預(yù)火花放電較大電流可達(dá)150安和燃燒時(shí)間為150微秒,這樣使試樣中燃燒斑點(diǎn)內(nèi)的組織結(jié)構(gòu)較加均勻,由此來消除元素之間干擾及元素之間結(jié)合等效應(yīng)。2.火花型放電對(duì)大多數(shù)元素重現(xiàn)性好。3.電
具體材料具體分析 臺(tái)式X熒光光譜儀的材料分析檢測(cè)法詳解
臺(tái)式X熒光光譜儀因?yàn)樗奶赜刑攸c(diǎn),所以可以無損檢測(cè)多種材料,具體材料具體分析,下面我們來了解一下X熒光光譜儀檢測(cè)幾種金屬合金材料和非金屬材料的檢測(cè)方法。生鐵的分析檢測(cè),生鐵中的碳是以元素狀態(tài)存在,灰口鐵中的碳有的呈球狀石墨,有的呈片狀石墨,在研磨過程中表面上脫落的石墨孔也會(huì)引起其他分析元素的污染,造成分析錯(cuò)誤。澆鑄的試樣是不均勻的,不適合作X射線熒光分析。而急冷試樣的晶粒很細(xì),分布,碳生成滲碳體(
臺(tái)式X熒光光譜儀的X射線防護(hù)系統(tǒng)有問題怎么辦?
臺(tái)式X熒光光譜儀現(xiàn)在已經(jīng)成為了是元素分析的熱門儀器之一,它制樣簡(jiǎn)單、無損、快速、不破壞樣品、可以多元素同時(shí)分析等優(yōu)點(diǎn)。臺(tái)式X熒光光譜儀采用兩種分光技術(shù),一是通過分光晶體對(duì)不同波長(zhǎng)的X-熒光進(jìn)行衍射而達(dá)到分光目的,然后用探測(cè)器探測(cè)不同波長(zhǎng)處X-熒光強(qiáng)度,這項(xiàng)技術(shù)稱為波長(zhǎng)色散光譜。另一項(xiàng)技術(shù)是首先使用探測(cè)器接收所有不同能量的X-熒光,通過探測(cè)器轉(zhuǎn)變成電脈沖信號(hào),經(jīng)前置放大后,用多道脈沖高度分析器進(jìn)行信
現(xiàn)代科技的迅速發(fā)展,也促進(jìn)了X熒光光譜儀的提升和進(jìn)步。臺(tái)式X熒光光譜儀運(yùn)用到的X射線熒光法,一直是元素分析的重要方法。它可以應(yīng)用在樣品涂鍍層厚度及成分分析,而且十分受生產(chǎn)廠家的喜愛。今天就跟著創(chuàng)想小編來了解一下吧。臺(tái)式X熒光光譜儀可用于分析多種鍍層,包括但不限于:貴金屬、珠寶首飾中的黃金、鉑金等鍍層。鋼鐵、五金電鍍中的鍍鋅、鍍鉻、鍍鈦等鍍層。電子電器中PCB印刷電路板、金手指及連接器上的Au/Ni
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
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