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電子元件進(jìn)行可靠性測試的重要性-優(yōu)爾鴻信檢測
電子元件進(jìn)行可靠性測試的重要性?電子元件的可靠性測試是確保電子產(chǎn)品在各種環(huán)境條件下正常工作的關(guān)鍵過程。這種測試通常包括對電子元件進(jìn)行一系列的實(shí)驗(yàn),以評估其在預(yù)期使用壽命內(nèi)的性能和穩(wěn)定性。以下是關(guān)于電子元件可靠性測試的一些基本知識:?1. 什么是可靠性?可靠性是指一個(gè)產(chǎn)品在特定條件下,在一定時(shí)間內(nèi)能夠正常工作的概率。換句話說,可靠性是衡量產(chǎn)品在正常使用過程中出現(xiàn)故障或失效的可能性
背景某產(chǎn)商反映其產(chǎn)品PCBA板存在焊接后物料易脫落之失效現(xiàn)象(PCBA板及脫落物料見下圖),為查找其脫落之根本原因,故委托我實(shí)驗(yàn)室對其產(chǎn)品物料及PCBA板進(jìn)行失效分析。? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? &nbs
如何根據(jù)電子電氣產(chǎn)品的尺寸和重量來確定跌落試驗(yàn)的高度標(biāo)準(zhǔn)?
在確定電子電氣產(chǎn)品跌落試驗(yàn)高度標(biāo)準(zhǔn)時(shí),尺寸和重量是兩個(gè)關(guān)鍵因素。首先考慮產(chǎn)品尺寸。對于較小尺寸的產(chǎn)品,例如小型手持電子設(shè)備,如智能手表、藍(lán)牙耳機(jī)等,其結(jié)構(gòu)相對緊湊。由于尺寸小,在跌落過程中空氣阻力對其影響較小,而且它們在實(shí)際使用場景中可能會從較高位置掉落,如從桌子、口袋等位置。因此,這類產(chǎn)品的跌落試驗(yàn)高度可以相對較高,一般可設(shè)置在 1 - 1.5 米左右。這樣的高度能夠較好地模擬用戶日常使用中產(chǎn)品
如何準(zhǔn)確檢測鋁及鋁合金中微量雜質(zhì)元素的含量及其對合金性能的影響?
檢測方法電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP - MS):這是一種高靈敏度的檢測方法,能夠檢測出極低含量的雜質(zhì)元素。它通過將樣品離子化后,利用質(zhì)譜儀進(jìn)行分析,可以精確地確定元素的種類和含量。對于鋁及鋁合金中的微量雜質(zhì)如硼、鈦等,檢測限可以達(dá)到 ppt(萬億分之一)級別。原子吸收光譜法(AAS):該方法利用原子對特定波長光的吸收特性來確定元素的含量。對于鋁及鋁合金中的一些金屬雜質(zhì)元素,如鐵、銅等,原子吸收
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
電 話:
手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號
郵 編: 0
網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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