X光鍍層測(cè)厚儀采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚

時(shí)間：2022-06-11作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：235

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• X光鍍層測(cè)厚儀采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚

  ??????X光鍍層測(cè)厚儀可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能優(yōu)越，而且價(jià)錢(qián)**值，同比其他牌子相同配置的機(jī)器，X光鍍層測(cè)厚儀為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。**大/開(kāi)放式的樣品臺(tái)，可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等

• X光鍍層測(cè)厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。 X光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的*二次X射線的

• X-RAY鍍層測(cè)厚儀的性能好，實(shí)用性強(qiáng)

  ? ? ?X-RAY鍍層測(cè)厚儀的原理：? ? ?被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學(xué)組成的信息，通過(guò)對(duì)X射線熒光的分析確定被測(cè)樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學(xué)的知識(shí)，對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō)，都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線

• x射線鍍層測(cè)厚儀在檢測(cè)時(shí)具有什么原理？

  ? ? ?x射線鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。使用x射線鍍層測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中**種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多