平板電腦可靠度測試

時(shí)間：2023-06-28作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：82

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

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  詞條說明

• PSL-80高低溫濕熱試驗(yàn)箱再次出口土耳其！

  PSL-80高低溫濕熱試驗(yàn)箱再次出口土耳其！ ? ? ? ? 宏展擁有一個(gè)專業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)的科研機(jī)構(gòu)，具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗(yàn)室，聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類人才和***，強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)**著國內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向．現(xiàn)目前公司具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、太

• 北京宏展儀器與哈工大緊密合作，共筑工程師的搖籃！

  近日哈爾濱工業(yè)大學(xué)再次向北京宏展儀器有限公司訂購高低溫試驗(yàn)箱，雙方緊密合作，共筑工程師的搖籃！?哈爾濱工業(yè)大學(xué)（Harbin Institute of Technology），簡稱哈工大， 校本部位于黑龍江省哈爾濱市，是由工業(yè)和信息化部直屬的國內(nèi)重dian大學(xué)，位列g(shù)uojia“雙**”、 “985工程”、“211工程”，九校聯(lián)盟? 、環(huán)太平洋大學(xué)聯(lián)盟、zhongguo大學(xué)校長

• 芯片研發(fā)過程中的可靠性測試有哪些

  一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗(yàn)：加速測試：在半導(dǎo)體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時(shí)間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認(rèn)證測試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán)：根據(jù) JED22-A104 標(biāo)準(zhǔn)，溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進(jìn)行該測試時(shí)，將部件反復(fù)暴露

• 芯片能忍受高溫嗎？

  物理原理出發(fā)，為什么芯片等半導(dǎo)體等電子元件不能忍受高溫(100℃左右)？溫度會影響很多很多參數(shù)，它們會對電路的各個(gè)方面產(chǎn)生影響。zui大的問題就是電路延遲。溫度會影響半導(dǎo)體器件的遷移率和閾值電壓，但是這兩者和溫度的關(guān)系很復(fù)雜，而且不同材料的不同摻雜也會影響溫度效應(yīng)。通常情況下，在接近室溫的情況下，遷移率和閾值都會隨著溫度的上升而降低，總體上來說，溫度的上升會造成電路延時(shí)的增加。一旦延時(shí)過高，部分電