芯片ic測(cè)試座編程座老化座

時(shí)間：2019-11-22

作者：深圳鴻怡電子科技技術(shù)有限公司

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詞條說明
芯片ic測(cè)試座編程座老化座
我司**研發(fā)、生產(chǎn)、銷售各類IC測(cè)試座、燒錄座，至今已*19個(gè)年頭，擁有25項(xiàng)地區(qū)發(fā)明**。產(chǎn)品應(yīng)用于: 1、集成電路功能驗(yàn)證的測(cè)試座、老化座、燒錄座、編程座等集成電路應(yīng)用功能測(cè)試夾具； 2、各類**、低成本的Burn-in; Test Socket及各類IC測(cè)試治具，適用于多種封裝：QFP、LQFP、TQFP、QFN、PLCC、BGA、PGA、SOP、SSOP、TSOP、TSSOP、CSP、

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