海納光學(xué)新推出一款寬波段紅外探測(cè)卡 750-2130nm

時(shí)間：2023-09-13作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：87

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• 用于DLIP系統(tǒng)的衍射光學(xué)元件

  近幾年，利用高功率短脈沖準(zhǔn)直激光干涉圖像系統(tǒng)(DLIP)來重塑表面的結(jié)構(gòu)，這一方面越來越受到人們的關(guān)注。由于使用Holoor的高功率衍射光學(xué)元件（DOE）應(yīng)用在DLIP系統(tǒng)中的客戶比較多，我們覺得非常有必要為該領(lǐng)域的客戶提供系統(tǒng)的技術(shù)支持，并推出了DLIP光學(xué)系統(tǒng)的Zemax OpticStudio設(shè)計(jì)文件，并共享給有需要的客戶。在Zemax軟件中，能夠模擬光束的基本性能和公差，還可以自定義的輸入

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  optodiode探測(cè)器常見問題及解決方法如下。美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)（時(shí)間常數(shù)太慢），第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高（超過1mW/cm2），探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比最初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間更長(zhǎng)，因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化，這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。optodiode探測(cè)器

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