隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)是上下振動(dòng)還是左右振動(dòng)

時(shí)間：2019-01-15作者：廣東蘇試廣博測(cè)試技術(shù)有限公司瀏覽：331

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 可靠性試驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)介紹手機(jī)生產(chǎn)廠家全程可靠性檢測(cè)方案

  1、可程式恒溫恒濕箱(整機(jī)耐濕熱、高溫老化、冷溫儲(chǔ)存試驗(yàn))-70~150℃。 2、冷熱沖擊試驗(yàn)箱(用于產(chǎn)品研發(fā)，整機(jī)、電路板及電子元件篩選)低溫-70℃高溫150℃。 3、靜電放電發(fā)生器(用于產(chǎn)品研發(fā)，電路板上電子元件在儲(chǔ)運(yùn)、裝配及較為干燥環(huán)境使用時(shí)，可能因靜電導(dǎo)致?lián)p壞)靜電電壓20KV(正、負(fù))。 4、鹽霧試驗(yàn)箱(用于模擬手機(jī)真實(shí)使用情況耐汗、潮濕及含鹽環(huán)境)。 5、紫外燈(UV)試驗(yàn)箱(用于

• 振動(dòng)沖擊試驗(yàn)方法之正弦振動(dòng)試驗(yàn)

  系統(tǒng)是環(huán)境試驗(yàn)的主要試驗(yàn)手段之一，用它可以完成環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的振動(dòng)試驗(yàn)和沖擊試驗(yàn)。當(dāng)今國(guó)內(nèi)外在環(huán)境試驗(yàn)上有許多標(biāo)準(zhǔn)和方法,但歸納起來(lái)為二大體系： 一類是以IEC（**電工**）為主體的**通用的民用(商用)產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)體系,它是**貿(mào)易中民用(商用)產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性水平要求的共同語(yǔ)言、統(tǒng)一準(zhǔn)則，它是以歐洲資本主義國(guó)家為主導(dǎo)制訂的，可以說(shuō)它是歐洲資本主義國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)現(xiàn)狀和水平的反映。我國(guó)自80

• 環(huán)境可靠性試驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)淺析恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品滿足的試驗(yàn)條件及標(biāo)準(zhǔn)

  恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品滿足試驗(yàn)條件及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 5.1GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫 5.2GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 5.3GJB150.3A－2009高溫試驗(yàn)方法 5.4GJB150.4A－2009低溫試驗(yàn)方法 5.5GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2

• 高低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)探究高低溫測(cè)試的分類有哪些？

  根據(jù)高低溫測(cè)試機(jī)構(gòu)的表述，高低溫測(cè)試是用來(lái)確認(rèn)產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時(shí)間。 1.高溫工作試驗(yàn) 在高溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于正常工作狀態(tài)下，高溫試驗(yàn)期間，設(shè)備不應(yīng)發(fā)生異常 2.低溫工作試驗(yàn) 在低溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于正常工作狀態(tài)下，低溫試驗(yàn)期間，設(shè)備不應(yīng)發(fā)生異常 3.高溫貯存試驗(yàn) 在高溫環(huán)境條件下，受試設(shè)備處于斷電狀態(tài)