晶圓測試的注意事項有哪些?


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    詞條說明

  • 如何區(qū)分CP測試和FT測試?

    ? ??針對技術專業(yè)的測試工作人員有關CP測試和FT的測試肯定是十分的了解了,但許多非測試技術專業(yè)的從業(yè)者對這兩個定義實際上掌握并不象那般刻骨銘心。因此文中將針對這些必須觸碰測試但并不是測試工作人員的人開展有關CP和FT的測試的解讀。? ? 依照慣例,最先必須再解釋一下什么叫CP測試和FT測試。CP是(ChipProbe)的簡稱,指的是集成芯片在w

  • 圓片測試要求記錄哪些數(shù)據(jù)?

    需先掌握IC生產制造的步驟,全部IC全是先從圓晶片剛開始生產加工的,當圓晶片進行生產制造工藝流程以后,通常都必須開展檢測,隨后能夠封裝,不然將會成片圓片全是技術參數(shù)不過關,假如立即封裝就會導致?lián)p害。針對圓片的檢測全是選用電極開展檢測的,應用材料制做的電極具備必須的延展性,切導電率優(yōu)良,能夠立即扎在圓片的pad上,隨后檢測設備根據(jù)電極對集成ic釋放電子信號,從而能夠開展技術參數(shù)的檢測,以辨別圓片上每

  • 芯片測試需要掌握哪些技術?

    芯片測試發(fā)展前途通常有下列幾種發(fā)展方向:這種挑選是走檢測的技術路線,成才為高級軟件測試,這時候他可以單獨檢測許多手機軟件,再往上能夠變成檢測架構設計師。從硬件測試技術工程師發(fā)展趨勢到檢測主管必須長時間工作經(jīng)歷的累積和扎實的專業(yè)技術人員背景圖。第二類挑選是向管理方法方位發(fā)展趨勢,從軟件測試到小組長,再到檢測主管,以致到更高的崗位。第三類挑選是能夠換崗位,做項目風險管理或做開發(fā)者能夠,許多檢測工具研發(fā)

  • 晶圓測試操作流程是什么?

    晶圓的應用范圍在不斷地擴大,與此同時晶圓測試也有著嚴格的要求,那么,晶圓測試有哪幾種方式?下面將關于晶圓來講解測試的幾種方式。通常情況下,在實施晶圓測試之前,需要對產品展開極性檢測。在封裝以前,產品必須是及格商品。提高工藝合格率的關鍵方式之一就是圓晶檢測,確保出廠的產品質量?,F(xiàn)在的檢測器不平穩(wěn),對于產品的錯判率高。商家將不精確的數(shù)據(jù)測試公布,會對于商家造成信譽度和財產損失。檢測可靠性是需要提高,以

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